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偏振相关损耗测量仪PDL-201

  • 型  号:PDL-201
  • 名  称:偏振相关损耗测量仪PDL-201
  • 英文名称:
  • 品  牌:Gengral Photonics
  • 发布时间:2017-3-9 10:32:27
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 采用专利搜索技术,通用光电公司的PDL测量仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围:1260~1650 nm,无需波长校准,比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口,用于电脑控制。它能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性,尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比,PDL-201具有较快的测量速度,较大的测量动态范围,更明亮的显示屏,以及用于集成的附加模拟输出端口。

产品特性:                                                                            产品应用:
     30 ms的测量速度                                                                    PDL与波长测量
     较宽的波长范围                                                                       DWDM器件特性测试
     PDL测量精度高                                                                       光纤传感元件特性测试
     PDL模拟输出 
     高亮的OLED屏
 

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